电子信息产业国家标准大全[8]
GB/T 3789.9-91发射管电性能测试方法栅极最大耗散功率的测试方法
GB/T 3789.10-91发射管电性能测试方法第一栅极截止电压的测试方法
GB/T 3789.11-91发射管电性能测试方法第三栅极截止电压的测试方法
GB/T 3789.12-91发射管电性能测试方法极间绝缘的测试方法
GB/T 3789.13-91发射管电性能测试方法共栅电路静态特性曲线的测试方法
GB/T 3789.14-91发射管电性能测试方法共阴电路静态特性曲线的测试方法
GB/T 3789.15-91发射管电性能测试方法输出功率的测试方法
GB/T 3789.16-91发射管电性能测试方法脉冲输出功率的测试方法
GB/T 3789.17-91发射管电性能测试方法电气强度的测试方法
GB/T 3789.18-91发射管电性能测试方法电极间绝缘体高频损耗的测试方法
GB/T 3789.19-91发射管电性能测试方法频率特性曲线的测试方法
GB/T 3789.20-91发射管电性能测试方法第一栅极电流截止电压的测试方法
GB/T 3789.21-91发射管电性能测试方法静态特性参考点的测试方法
GB/T 3789.22-91发射管电性能测试方法振动稳定性的测试方法
GB/T 3789.23-91发射管电性能测试方法第三栅极控制能力的测试方法
GB/T 3789.24-91发射管电性能测试方法线性放大管双音互调失真的测试方法
GB/T 3789.25-91发射管电性能测试方法图象输出功率的测试方法
GB/T 3789.26-91发射管电性能测试方法功率增益的测试方法
GB/T 3789.27-91发射管电性能测试方法三音互调失真的测试方法
GB/T 3789.28-91发射管电性能测试方法交叉调制的测试方法
GB/T 3789.29-91发射管电性能测试方法低频亮度非线性的测试方法
GB/T 3789.30-91发射管电性能测试方法由亮度信号不同引起的色度信号失真(微分增益DG和微分相位DP)的测试方法
GB/T 3789.31-91发射管电性能测试方法同步脉冲压缩的测试方法
GB/T 9547-94电子设备用固定电阻器第八部分:空白详细规范:片式固定电阻器评定水平E
GB/T 14598.5-93电气继电器第十五部分:电气继电器触点的寿命试验试验设备的特性规范
GB/T 7092-93半导体集成电路外形尺寸
GB 12453-90信息处理系统开放系统互连运输服务定义
GB 12498-90枷原子频率标准通用技术条件及测试方法
GB 12510-90信息处理交换用维吾尔文字符集键盘的字母区布局
GB/T 12774-91同轴电气假负载总规范
GB/T 12775-91电子设备用圆片型瓷介预调可变电容器总规范
GB/T 13166-91电子测量仪器设计余量与模拟误用试验
GB/T 13183-91扫频信号发生器通用技术条件
GB/T 13189-91旁热式负温度系数热敏电阻器总规范
GB 12166-90非平衡电压数字接口电路的电气特性
GB 12179-90噪声发生器通用技术条件
GB 12180-90低频信号发生器通用测试方法
GB 12181-90低频信号发生器通用技术条件
GB 12184-90信息处理磁墨水字符识别印刷规范
GB/T 12200.2-94汉语信息处理词汇02部分：汉语和汉字
GB 12269-90射频电缆总规范
GB/T 12750-91半导体集成电路分规范(不包括混合电路)
GB 12564-90光电倍增管总规范
GB/T 12567-90直观存储管测试方法
GB/T 12568-90直观存储管分规范
GB/T 12569-90直观存储管空白详细规范
GB/T 12570-90单色显示管空白详细规范
GB/T 12571-90单色显示管测试方法
GB/T 12634-90压电晶体电弹常数测试方法
GB 12635-90碳膜电阻器用陶瓷基体
GB/T 12636-90微波介质基片复介电常数带状线测试方法
GB 12629-90限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板(制造多层印制板用)
GB/T 12630-90一般用途的薄覆铜箔环氧坡璃布层压板(制造多层印制板用)
GB 12300-90功率晶体管安全工作区测试方法
GB 12277-90电子设备用固定电阻器第七部分:空白详细规范:各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平E
GB 12280-90噪声发生器测试方法
GB 12272-90射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
GB 12274-90石英晶体振荡器总规范
GB 12275-9o石英晶体振荡器型号命名方法
GB 12276-90电子设备用固定电阻器第七部分:分规范:各电阻器不可单独测量的固定电阻网络
GB/T 14027.1-92半导体集成电路通信电路系列和品种有源滤波器系列品种
GB/T 14027.2-92半导体集成电路通信电路系列和品种脉码调制编译码器系列品种
GB/T 14027.3-92半导体集成电路通信电路系列和品种模拟开关阵列系列品种
GB/T 14027.4-92半导体集成电路通信电路系列和品种双音多频电路系列品种
GB/T 14027.5-92半导体集成电路通信电路系列和品种电话电路系列品种
GB/T 14027.6-92半导体集成电路通信电路系列和品种频率合成器系列品种
GB/T 14027.7-92半导体集成电路通信电路系列和品种数字交换系统接口电路系列品种
GB/T 15426-94收讯放大电子管空白详细规范
GB/T 15427-94彩色显示管测试方法
GB/T 15298-94电子设备用电位器第一部分:总规范
GB/T 13710-92分析用x射线管空白详细规范
GB/T 13723-92中型数字电子计算机通用技术条件
GB/T 13707-92光电管空白详细规范
GB/T 13708-92光电倍增管空白详细规范
GB/T 13709-92检测用X射线管空白详细规范
GB/T 13706-92光电管总规范
GB/T 14082-939磁道数字磁带机磁头通用技术条件
GB/T 14012-92黑白显象管玻壳总规范
GB/T 14015-92硅一蓝宝石外延片
GB/T 14026-92半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种
GB/T 14029-92半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T 14028-92半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB/T 14030-92半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 12560-1999半导体器件分立器件分规范
GB/T 14557-93射频同轴连接器电气试验和测量程序反射系数
GB/T 14129-93半导体集成电路TTL电路系列和品种PAL系列的品种
GB/T 14114-93半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
GB/T 14115-93半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
GB/T 14116-93彩色液晶显示器件的光度和色度的测试方法
GB/T 14117-93彩色液晶显示器件空白详细规范
GB/T 14120-93单孔轴套安装、轴控电子元件的安装尺寸
GB/T 14122-93电子设备用固定电容器第3部分:空白详细规范片状袒固定电容器评定水平E
GB/T 14127-93黑白电视接收机可靠性验证试验贝叶斯方法
GB/T 14119-93半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范
GB/T 14110-93闸流管与充气整流管总规范
GB/T 14111-93闸流管与充气整流管空白详细规范
GB/T 14112-93半导体集成电路塑料双列封装冲制型引线框架规范
GB/T 14113-93半导体集成电路封装术语
GB/T 5261-94信息处理七位和八位编码字符集用的控制功能
GB/T 4587-94半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管
GB/T 3047.2-92高度进制为44.45 mm的面板、机架和机柜的基本尺寸系列
GB/T 13840-92晶片承载器
GB/T 13844-92图形信息交换用矢量汉字单线宋体字模集及数据集
GB/T 13842-92掺钱忆铝石榴石激光棒
GB/T 13843-92蓝宝石单晶抛光衬底片
CB/T 13944-92荧光显示管空白详细规范
GB/T 13943-92荧光显示管总规范
GB/T 14005-92电子设备用固定电容器第六部分:空白详细规范金属化聚碳酸醋膜介质直流固定电容器评定水平E
GB/T 14006-92通信和电子设备用变压器和电感器外形尺寸第一部分:采用YEI - 1铁心片的变压器和电感器
GB/T 14004-92电子设备用固定电容器第六部分: 分规范金属化聚碳酸醋膜介质直流固定电容器
GB/T 13973-92半导体管特性图示仪通用技术条件
GB/T 13974-92半导体管特性图示仪测试方法
GB/T 13947-92电子元器件塑料封装设备通用技术条件
GB/T 13184-91扫频信号发生器测试方法
GB/T 14182-93变像管和像增强管总规范
GB/T 14183-93变像管和像增强管空白详细规范
GB/T 14184-93变像管和像增强管测试方法
GB/T 14186-93充气稳压管总规范
GB/T 13067-91半导体集成电路系列和品种石英电子钟表用系列的品种
GB/T 13583-92红外探测器外形尺寸系列
GB/T 13445-92信息交换用汉字256×256点阵楷体字模集及数据集
GB/T 14011-92阴极射线管X射线辐射测试方法
GB/T 14010-92阴极射线管玻壳试验方法
GB/T 13945-92辉光放电显示管总规范
GB/T 13946-92辉光放电显示管空白详细规范
GB/T 13537-92电子类家用电器用电动机通用技术条件
GB/T 14031-92半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14032-92半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB/T 15183-94按能力批准评定质量的电子设备用电源变压器分规范
GB/T 15178-94变容二极管空白详细规范
GB/T 15177-94微波检波、混频二极管空白详细规范
GB/T 15176-94插人式电子元器件用插座及其附件总规范
GB/T 15167-94半导体激光光源总规范
GB/T 15151.1-94频率计数器通用技术条件
GB/T 15151.2-94频率计数器测试方法
GB/T 15138-94膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
GB/T 15137-94体效应二极管空白详细规范
GB/T 15129-94信息处理系统服务开放系统互连约定
GB/T 15125-94信息技术数据通信25插针DTE /DCE接口连接器及接触件号分配
GB/T 15124-94信息处理系统数据通信多链路规程
GB/T 15289-94数字存储示波器通用技术条件和测试方法
GB/T 15288-94抑制射频干扰整件滤波器第二部分:分规范试验方法的选择和一般要求
GB/T 15285-94漏泄同轴电缆分规范
GB/T 15217-94同轴电缆屏蔽衰减测量方法(吸收钳法)
GB/T 14241-93信息处理处理机系统总线接口(欧洲总线A)
GB/T 14279-93交流等离子体显示器件空白详细规范
GB/T 14278-93电子设备热设计术语
GB/T 14714-93微小型计算机系统设备用开关电源通用技术条件
GB/T 14598.2-93电气继电器有或无电气继电器
GB/T 14619-93厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
GB/T 14620-93薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
GB/T 14516-93无贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件
GB/T 14515-93有贯穿连接的单印制板技、双面挠性术条件
GB/T 14580-93电子设备用固定电容器第17部分:空白详细规范金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E
GB/T 14579-93电子设备用固定电容器第17部分:分规范金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器
GB/T 14313-93精密硬同轴线及其精密连接器总规范
GB/T 14399-93信息处理系统数据通信高级数据链路控制规程与X.25 LAPB兼容的DTE数据链路规程的描述
GB/T 14400-93信息处理系统数据通信高级数据链路控制平衡类规程交换环境中数据链路层地址的决定/协商
GB/T 14397-93信息处理DTE /DCE接口处起止式传输的信号质量
GB/T 14862-93半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB/T 15301-94气体激光器总规范
GB/T 15300-94电子设备用电位器第二部分:空白详细规范螺杆驱动和旋转预调电位器评定水平E
GB/T 14815.1-93信息处理图片编码表示第一部分:在七位或八位环境中图片表示的编码原则
GB/T 15123-94信息处理数据通信使用25插针连接器的DTE /DCE接口备用控制操作
GB/T 17626.17-2005电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口纹波抗扰度试验
GB/T 17626.14-2005电磁兼容试验和测量技术电压波动抗扰度试验
GB/T 17902.3-2005信息技术安全技术带附录的数字签名第3部分：基于证书的机制
GB/T 17902.2-2005信息技术安全技术带附录的数字签名第2部分:基于身份的机制
GB/T 15843.5-2005信息技术安全技术实体鉴别第5部分:使用零知识技术的.机制
GB/T 19716-2005信息技术信息安全管理实用规则
GB/T 19714-2005信息技术安全技术公钥基础设施证书管理协议
GB/T 19713-安全管理指南第1部分:信息技术安全概念和模型
GB/Z 19717-2005基于多用途互联网邮件扩展(MIME)的安全报文交换
GB/Z 18039.6-2005电磁兼容环境各种环境中的低频磁场
GB/T 16896.1-2005高电压冲击测量仪器和软件第1部分:对仪器的要求
GB/T 4376-94半导体集成电路电压调整器系列和品种
GB/T 19771-2005信息技术安全技术公钥基础设施PKI组件最小互操作规范
GB/T 16264.8-2005信息技术开放系统互连目录第8部分呢：公钥和属性证书框架
GB/T 19709-2005用于行政、商业和运输业电子数据交换基于EDI (FACT)报文实施指南的XMLschema(XSD)生成规则
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